X射线检查设备相关产品
TUX-3300N
纳米焦点X射线显微镜检查装置
分辨率0.4μm的开放感X线源(TX-320)搭载,微型电子部件到实装基板都能使用的纳米焦点X射线显微镜检查装置
■焦点尺寸0.25μm,配备我公司自主研发的开放管X线源,能切换5种大小分辨率(0.4μm/0.6μm/1μm/2μm/3μm),而且,可以对现阶段开发中的高分辨率X线源升级 ■采用筐体设计,提高使用性
■高速检查机械应对功能和半自动检查机功能
■探测器最大倾斜角度60° ,载物台尺寸,直径400mm